CHY-C2测厚仪

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简介：专业 CHY-C2 测厚仪采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方...

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产品介绍

专　　业

CHY-C2 测厚仪采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

· 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

· 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

· 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

· 实时显示测量结果的较大值、较小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

· 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

· 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

· 系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

· 标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输

· 支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告

测试标准
该设备满足多项和标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
测试应用

基础应用	薄膜薄片	适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试
	纸张	适用于纸张、纸板的厚度测试
	箔片、硅片、金属片	适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试
	纺织、无纺布材料	适用于纺织材料的厚度测试
	固体电绝缘体	适用于固体电绝缘体的厚度测试

扩展应用	量程扩展至5，10mm	适用于测试薄膜、片材的厚度
扩展应用	测量头为曲面	满足特殊场合的厚度测试

技术指标

指标	参数
负荷量程	0 ～ 2 mm（常规）
负荷量程	0 ～ 6 mm；12 mm （可选）
分辨率	0.1 μm
测量速度	10 次/min （可调）
测量压力	17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积	50 mm²（薄膜）；200 mm²（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源	AC 220V 50Hz
外形尺寸	300 mm (L) × 275 mm (W) × 300 mm (H)
净重	33 kg

产品配置

标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选购件：软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

CHY-C2测厚仪

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