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Zeiss蔡司 颗粒度分析仪(油品分析仪,清洁度分析仪)

Zeiss蔡司 颗粒度分析仪(油品分析仪,清洁度分析仪)

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  • 简介:颗粒度分析仪(油品分析仪,清洁度分析仪) 颗粒度分析的飞跃全新的分析(Particle Analyzer Axio Imager. M1m and Particle Analyzer v12) 随着产品的不断小型化及包装质量要求的提高,其技术要求也更加严格尤其是引起零部件功能损耗及药物产品质量下降...

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 颗粒度分析仪(油品分析仪,清洁度分析仪) 

       颗粒度分析的飞跃——全新的分析(Particle Analyzer Axio Imager. M1m and Particle Analyzer v12)
 
    随着产品的不断小型化及包装质量要求的提高,其技术要求也更加严格——尤其是引起零部件功能损耗及药物产品质量下降的灰尘颗粒,需要得到可靠精密的探测。许多工业部门——从药品制造到自动供应商都已经认识到,他们需要适当的书面材料来证明其零部件及清洗液的纯净度。较常见的方法即为圆形滤波器颗粒分析——油品及药物过滤后,残留物将进行量化评。直到现在,一些简单标准的应用还受到颗粒分析系统的限制,许多指导方法,如ISO16232,需要进行完全过滤才能实现。鉴于该种复杂分析所需要的分辨率及存储量,评估只能在直径50mm的很小范围内进行,而其复杂的操作及有限的灵活性也造成了其他局限。常规的工业应用需要一个能够适应现在的解决方案——分辨率高、通用、简单、可靠并能在全球范围内应用;能在多领域应用的高度灵活性并能轻松应对未来的需要。Carl Zeiss颗粒度分析仪打破了当代颗粒分析的局限,将工业颗粒检测到了一个新的高度。

                      

完善的分析标准
 
 
    颗粒度分析仪支持重要的国内及标准:包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、ASTM D4378-03、VDA19等。方法都能通过菜单栏轻松得到激活,相关的别、别标准及适当的测量参数都能自动设置及选择。Carl Zeiss分析系统软件的较大优势在于其可编辑性,新标准能够便捷添加到现存系统,而不依赖于软件版本的升。

应用
 
 
过滤膜残留物测定
 
    用圆形过滤器进行颗粒分析是进行质量保证的标准过程。按照生产流程,将随机抽取的零部件样本用一定量的液体进行清洗,然后压/吸过过滤膜,任何的灰尘颗粒将被滤出,然后在显微镜下进行观察。这一过程也在风能电站得到应用,例如:检测服务间隔,在这里,使用到了润滑剂。在领域的应用中,mm的大颗粒具有明显的重要意义,它们只能通过图像拼接来获取。颗粒度分析仪次使其成为可能,完整的获取整个圆形滤波器的图像,不需要进行多次测量即可执行相关评估,结果即为定义尺寸范围的分析。
 
油品污染度(清洁度)分析
 
    即:检测油中污染杂质颗粒的尺寸、数量及分布,检测润滑油中的污染颗粒的数量和污染等。对于精密的液压系统,固体颗粒污染将加剧控制元件的磨损;对于透平系统,固体颗粒污染将加剧轴承等部件的磨损。
 
铁谱磨损分析
 
    检测用油中磨损颗粒的形状、成分、大小和数量。对磨损颗粒形状的分析, 判断设备的异常磨损类型;对磨损颗粒大小和数的分析,判断设备的异常磨损程度;对磨损颗粒成分的分析, 判断设备的异常磨损部位。

塑胶孔隙度
 
 
    碳化硅(SIC)是一种常在化学及电子工业(半导体技术)、航空航天、工具制造、机械工程及自动化工业(发动机构成)领域应用的材料。由于SIC是一种及其坚固的材料,它可以作为暴露在1400°C以上(消除机械及腐蚀压力)物体的理想组件。由于SIC的粒子比例及尺寸决定其机械品质及较终产品的表面特征,对这些特性进行分析在工业上具有重要的意义。较新Carl Zeiss颗粒度分析仪的高度灵活可靠使其成为应用领域强有力的分析工具。

压铸部件缺陷
 
    材料的力学性能常常受到制造相关工艺——铸造的负面影响(增加了内部的集中应力),如气孔、气洞和空洞,尤其带有镁或铝铸造材料时,收缩气孔及天然气空洞不可避免,从技术的角度看更是如此,但是,它们可以通过对生产及冷却过程进行修正来调整。今天,工业领域尤其重视对断裂(尤其在材料表面)的自动探测,断裂尺寸也是如此。主要焦点都集中在:在大缺陷上将造成单个图像测量时的分析不足,颗粒度分析仪在图像拼接上的功能使其能够在该领域获得可靠结果。

药膏结晶活性
 
    药膏,如皮肤及粘膜的杀菌剂制备,是根据其活性物质的分布来探测的,表现为结晶形式。样本或来自开发的新产品,或来自完成的药膏软管,其品质已在生产过程中探测完成。在透射光显微镜下,药膏涂抹在切片上,在偏光观察方式下进行观察(10x及20x物镜),活性物质结晶能够作为暗色结构清晰可见并利用图像分析进行评估。为了验证该系统,一个常规面积(100平方微米面积圆)应每月测量一次并将测量结果同相关值进行比对,颗粒度分析仪次使其成为可能,大的晶体聚合物及小的颗粒均能一步探测测量,并将其颗粒分布同标准操作规程下的分布进行比对。

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