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SLWY-Ⅰ金属钨的逸出功测定仪

SLWY-Ⅰ金属钨的逸出功测定仪

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  • 简介:SLWY-Ⅰ型 金属钨的逸出功测定仪 用途和目的: * 了解理想二极管的结构和工作原理; * 用里查孙直线测定金属材料电子逸出功e(或逸出电位); * 设计性扩展实验测定电子荷质比。 技术参数及特点: * 理想二极管 材料:纯钨丝 阳极电压:DC 0~150V 灯丝电流...

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 SLWY-Ⅰ型 金属钨的逸出功测定仪

用途和目的:

* 了解理想二极管的结构和工作原理;
* 用里查孙直线测定金属材料电子逸出功eΨ(或逸出电位Ψ);
* 设计性扩展实验测定电子荷质比。
 
技术参数及特点:
* 理想二极管
 
  材料:纯钨丝
  阳极电压:DC 0~150V
  灯丝电流:DC 0.55A~0.75A
 
* 阳极电压表:量程为0~200V,三位半数字显示;
* 阳极电压稳压源:0~200V连续可调;
* 灯丝电流表:量程为0~2A,三位半数字显示;
* 灯丝电流稳流源:0~0.8A连续可调;
* 阳极电流表:量程为0~2000uA,三位半数字显示。
 

采用国标标准接插件手动连接线路;
设计性扩展实验,测定电子荷质比。

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